导航

TH521系列 功率器件分析仪

工作原理:

image.png
TH521系列功率器件分析仪是一款用于电路设计的综合解决方 案,可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件, 让其电力电子产品发挥最大价值。它可以评测器件在不同工作条 件下的所有相关参数,包括IV参数(击穿电压和导通电阻)、三端 FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列功率 器件分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。

TH521 的常规特性

• 高达 3.5kV/1800A的宽广工作范围
• 从 -50 °C 到 +250 °C 的全自动快速热测试
• 自动创建功率器件(半导体和元器件)的技术资料
• 自动记录功能可防止数据丢失
• AI辅助编写python测试脚本

TH521 IV 套件特性
• 可对封装和晶圆上器件进行全自动快速 IV 测量 (Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等)
• 窄 IV 脉冲宽度(最窄 10 μs)可防止器件自发热,更准确地测 试器件实际性能
• 示波器视图(时域视图)可以监测实际电压/电流脉冲波形,以 便进行准确测量
• 配置可以灵活选择(电流范围可从20 A 到 200 A、600 A 或 1800 A灵活选择), CV 和 Qg作为选配

TH521 套件的完整特性
• IV 套件的全部特性
• 测量封装器件在 3.5 kV 以内的晶体管输入、输出和反向传输电容 (Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)以及栅极电阻(Rg)
• 测量封装器件的栅极电荷(Qg)曲线
• 计算功率损耗(传导、驱动和开关损耗)

技术参数:

产品应用:

• 半导体功率器件
二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光 电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析

• 半导体材料
晶圆切割、C-V特性分析

• 液晶材料
弹性常数分析、液晶切割

• 电容元件
电容器C-V特性测试及分析,电容式传感器测试分析
      4008-056-058