性能特点:
提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量,满足准等温测试条件
实现器件寄生效应的量化测量与数据运算
脉宽最小低至200ns
具有内部和外部同步能力
脉冲时序设置和时域波形记录
仪器设备可与socket&半自动探针台互联,进行封装以及晶圆级芯片测试
提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量,满足准等温测试条件
实现器件寄生效应的量化测量与数据运算
脉宽最小低至200ns
具有内部和外部同步能力
脉冲时序设置和时域波形记录
仪器设备可与socket&半自动探针台互联,进行封装以及晶圆级芯片测试
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