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耐冲击精密电容测试仪 TH2640系列 100Hz~500kHz/2MHz

工作原理:

TH2640B.jpg
性能特点:

• 高稳定性和一致性:20个量程配置
• 高功率:信号电平:20VAC/100mAAC
• 高速度:测试速度高达10ms(100次/秒)
• 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
• 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
• 四参数测量
• 201点多参数列表扫描功能
• 图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏
• 分选功能:LCR模式10档分选
• 耐冲击:抗冲击电压高达200V
• 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集, 兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A

技术参数:

产品应用:

• 无源元件: 电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
• 半导体元件: LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性; 晶体管或集成电路的寄生参数分析
• 其它元件: 印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
• 介质材料: 塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
• 磁性材料: 铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
• 半导体材料: 半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
      4008-056-058