TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半 导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪 器。 仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及 IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁 切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速 测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。 CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器 件的研发及分析（此功能为选件）。 仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可 达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。
性能特点：
• 一体化设计： LCR+栅极电压VGS+漏极电压VDS+通道切换+上位机软件
• 栅极电压VGS：0 - ±40V
• 漏极电压VDS：0 - ±200V/±1500V/±3000V
• 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件) 三种测试方式
• 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg) 同屏一键测量及显示
• 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）
• CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
• 电容快速充电技术，实现快速测试
• 接触检查Cont
• 通断测试OP_SH
• 自动延时设置
• Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题
• 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器
• Interlock安全锁功能：增加高压防护墙(仅TH513)
• Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析
• 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式
• 10档分选
