FTS2000电子器件老化测试实验系统，是针对各种分立元件（二极管、三极管），电源模块，继电器，接触器等电子器件及产品的动态老化测试、可靠性实验、性能指标测试等应用而开发的实验系统。系统具备高精度的直流电源和电子负载，搭配各类高低温试验箱及测试仪器，可实现对元器件的加速老化测试。

测试系统操作简便，可对多个分组批量的电子器件产品同时动态加电、拉载、控制，进行长时间的、连续的测试控制，及数据统计分析。

系统的架构具有良好的扩展性，配置灵活度高,可提供定制的测试项，帮助各类用户轻松完成复杂的实验。

主要特点：

• 电压、电流精度高；

• 开放式软件，可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置；

• 模块化设计，易于维护；

• 紧凑的结构设计，智能静音风扇保障散热；

• 高性能、低纹波噪音程控电源；

• 自适应恒压或恒流输出，自动切换工作状态；

• 时序控制功能，可自定义每一路电源输出大小和时间工步；

• 实时监测通道数据、图形化显示设备信息、测试数据的记录保存与调用，导出成 Excel 文件保存。

FTS2000系统根据客户需求，为使用者提供了一套适合于广泛应用的开放式软体架构。用户可编辑测试步骤，同时控制单台或多台测试设备。

• 开放式软件，可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置；

• 可编辑每通道电源的电压电流和运行时序，实现复杂带载测试；

• 可记录每个试验通道的测试数据，并绘制输出曲线和Excel 数据报告，确保试验数据可追溯；

• 可显示每通道的电压、电流，运行时序等实时信息；

• 可显示每个试验通道试验器件型号、老化状态、老化进程、监视状态、报警状态、器件库信息等，全面反映系统试验总体进程和状况。